بررسی دقت و اعتبار روش توموگرافی اسپیرال در ارزیابی محل قرارگیری ایمپلنت در فک پایین : مطالعه آزمایشگاهی

بررسی دقت و اعتبار روش توموگرافی اسپیرال در ارزیابی محل قرارگیری ایمپلنت در فک پایین : مطالعه آزمایشگاهی دکترشهریار شهاب1- دکترشکرانه قاضی‌مقدم2- دکتر فرید ابوالحسنی3- دکتر محمدجواد خرازی‌فرد4- دکترشهرام نامجوی‌نیک51- استادیار گروه آموزشی رادیولوژی دهان و فک و صورت دانشکده دندانپزشکی دانشگاه شاهد2- دندانپزشک3- دانشیار گروه آموزشی جنین شناسی دانشکده پزشکی دانشگاه علوم پزشکی تهران4- مشاور آمار و متدولوژی دانشکده و مرکز تحقیقات دندانپزشکی دانشگاه علوم پزشکی تهران5- استادیار گروه آموزشی ایمپلنتولوژی دانشکده دندانپزشکی دانشگاه شاهد. چکیده زمینه و هدف: مزیت اصلی روشهای توموگرافیک مقطعی بر رادیوگرافی‌های پریاپیکال، پانورامیک یا سفالومتریک، در تصویربرداری از خلف مندیبل ارائه اطلاعات نسبتاً دقیق در مورد کرست آلوئولار، ارتفاع و پهنای استخوان و رابطه فضایی با کانال مندیبولار می‌باشد. هدف از این مطالعه، بررسی دقت و اعتبار روش توموگرافی معمولی اسپیرال در ارزیابی محل قرارگیری ایمپلنت در فک پایین می‌باشد. روش بررسی: در این مطالعه آزمایشگاهی ابتدا ده قطعه استخوان فک پایین که دچار بیدندانی کامل یا دارای چند ناحیه بیدندانی بودند، انتخاب گردید. سپس نقاطی در چهار ناحیه قدام، کانین، پرمولر و مولر جهت تصویربرداری انتخاب شد و از این محلها تصویربرداری با روشهای توموگرافی اسپیرال معمولی و کامپیوتری به عمل آمد. مقادیر فاصله کرست آلوئولار تا بوردر فوقانی کانال مندیبولار، ارتفاع مندیبل و پهنای مندیبل در میانه ارتفاع اندازه‌گیری شده، توسط یک رادیولوژیست دهان و فک و صورت از روی تصاویر اندازه‌گیری گردید. یافته‌ها: با مقایسه مقادیر حاصل از توموگرافی معمولی با مقادیر حاصل از تصاویر سی‌تی‌اسکن به عنوان استاندارد طلایی این نتیجه به دست آمد که میانگین قدر مطلق خطادر مقادیر حاصل از توموگرافی معمولی در نواحی قدام، کانین، پر‌مولر و مولر، در اندازه‌گیری ارتفاع به ترتیب 43/1، 74/0، 87/0 و 81/0 میلی‌متر و در اندازه‌گیری پهنا به ترتیب 21/1، 92/0، 76/0 و 82/0 میلی‌متر می‌باشد. در مجموع میانگین قدر مطلق خطا در اندازه‌گیری ارتفاع 65/0 میلی‌متر بوده و در اندازه‌گیری پهنا نیز 91/0 میلی‌متر می‌باشد، که بجز مقادیر ناحیه قدام، سایر مقادیر در محدوده 1± میلی‌متر قرار دارند. در ناحیه قدام در هر دو مورد اندازه‌گیری ارتفاع و پهنا تمایل به تخمین کمتر از مقدار واقعی وجود داشت. همچنین اعتبار روش توموگرافی اسپیرال معمولی در اندازه‌گیری ارتفاع 49/90% و در اندازه‌گیری پهنا 02/73% محاسبه شد، که هر دو از نظر آماری معنی‌دار بوده (001/0> p ) و بیانگر اعتبار بالای این روش تصویربرداری می‌باشند. نتیجه‌گیری: توموگرافی معمولی اسپیرال در اندازه‌گیری ارتفاع و پهنا در فک پایین از دقت و اعتبار کافی برخوردار می‌باشد. کلید واژه‎ها: توموگرافی اسپیرال – سی تی اسکن اسپیرال – ایمپلنت دندانی – فک پایین. وصول مقاله: 7/12/1386/1383 اصلاح نهایی: 22/12/1387 پذیرش مقاله: 24/12/1387/1385 نویسنده مسئول: دکتر شهریار شهاب، گروه آموزشی رادیولوژی دهان و فک و صورت دانشکده دندانپزشکی دانشگاه شاهد e.mail:[email protected]